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本发明公开了一种基于高光谱图像的材质分析方法及系统,系统中的采集单元接受成像指令,采集被测物品的高光谱图像数据并发送至处理单元,处理单元接收高光谱图像数据,对高光谱图像进行聚类,分离出被测物品的各个组成部分,对每个物品组成部分的平均光谱进行光谱匹配,获取各个组成部分的材质类别信息,完成材质分析处理,并显示各个组成部分的材质分析结果。本发明可以对包含多种类型材质的物品进行材质分析,对被测物品没有损伤,可以有效提高材质分析效率,降低材质分析成本。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112906750 B
(45)授权公告日 2022.04.29
(21)申请号 202110097854.6 G06K 9/62 (2022.01)
(22)申请日 2
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