一种电路元器件工作寿命抽样检验方法.pdfVIP

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  • 2023-06-09 发布于四川
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一种电路元器件工作寿命抽样检验方法.pdf

本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法,适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样,采用定时截尾一次计数抽样检验方法,即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下,试验到规定时间t时截止试验,试验中出现的不合格样品数r,不应超过规定的合格判定数c。本发明设计的抽样检验方案,解决了目前压敏电阻器(MOV)和避雷器阀片(MOA)无寿命评定方法可循的难题。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112906231 A (43)申请公布日 2021.06.04 (21)申请号 202110248555.8 (22)申请日 2021.03.08 (71)申请人 常州

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