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一种检测单分子光电器件的电致发光光谱的方法，第一,将单分子光电器件划分为第一电极区域、第二电极区域及位于第一电极和第二电极之间的单分子器件核心区域；第二,对第一电极和第二电极施加偏压，基于紧束缚近似的密度泛函理论,考虑单分子及电极的原子细节,得到不考虑光电相互作用下器件载流子的非平衡分布；第三,在上述模拟的基础上，进一步得到核心区域中纳米腔的光学模式的激发谱；最后，引入光子和载流子的相互作用，通过自洽求解得到器件的载流子非平衡分布,进而获得器件的电致发光光谱。本发明能够描述具有原子级精度的器件结
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112906897 A
(43)申请公布日 2021.06.04
(21)申请号 202110187199.3
(22)申请日 2021.02.18
(71)申请人 深圳京鲁计算科学应用研究院
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