一种嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法.pdfVIP

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2023-06-10 发布于四川
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一种嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法.pdf

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本发明公开了一种嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法，包括主控芯片，主控芯片上设置有efuse模块；包括以下步骤：检测efusePIN是否有效，若是，读取efuse前64bit数据，并检测efuse内有无数据或者第一、第二份数据均错，若无数据或者第一、第二份数据均错，跳过NANDBOOT进入EP0INIT，进入主控芯片主循环；否，则读取ROM的pad配置表；若有数据或第一、第二份数据无错，则找到正确配置信息；若配置信息正确则根据efuse信息配置管脚，若配置信息不正确且efuse有数据

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112927747 B (45)授权公告日 2021.09.21 (21)申请号 202110438264.5 US 5614761 A,1997.03.25 (22)申