适应多种封装的测试方法、装置、计算机设备及存储介质.pdfVIP

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2023-06-10 发布于四川
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本发明公开了一种适应多种封装的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括获取多种封装的待测试芯片；获取待测试芯片不同封装的可用IO数量；将待测试芯片不同封装的可用IO数量进行比较，筛选出可用IO数量最小的封装作为测试封装；初始化待测试芯片，并将预设的测试向量传输至测试封装的压缩器；通过压缩器的解压缩电路解压测试向量，得到测试向量并开始扫描测试待测试芯片。本方案通过筛选出可用IO数量最小的封装作为测试封装，并将测试向量传输至测试封装的压缩器，通过压缩器的解压缩电路解压测试向量，得到测试向量并开

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112948191 A (43)申请公布日 2021.06.11 (21)申请号 202110220756.7 (22)申请日 2021.02.26 (71)申请人记忆科技（深圳）有限公司