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- 2023-06-11 发布于四川
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接合结构体,是在半导体元件与基板之间存在的接合结构体,其中,所述接合结构体包含:Sn相、含有1质量%以上且不到7质量%的P的Cu合金粒子、和Ag粒子,所述Cu合金粒子用Cu6Sn5层被覆,所述Ag粒子用Ag3Sn层被覆,所述Cu合金粒子与所述Ag粒子经由Cu10Sn3相至少部分地结合,相对于所述接合结构体,所述Cu合金粒子和所述Ag粒子的添加量的合计为25质量%以上且不到65质量%,所述Ag粒子的添加量与所述Cu合金粒子的添加量的质量比为0.2以上且不到1.2。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112997284 A
(43)申请公布日 2021.06.18
(21)申请号 201880099193.7 (51)Int.Cl.
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