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本发明公开了一种磁共振图像上颞下颌关节定量测量分析系统，包括以下步骤：步骤一、以MRI图像中，髁突最大截面图像为测量对象，描绘髁突与下颌支形态，并在下颌支后缘选择髁突向后最突出的一点和下颌角向后最突的一点，连接两点形成一条下颌支后缘切线，即为垂直参考线。步骤二、垂直与下颌支后缘切线，做一直线与下颌骨乙状切迹相切，确定水平参考线。有益效果：从而能够建立稳定的TMJMRI测量体系，效果：可以有效的评价髁突高度，并进行治疗前后的比较，评价治疗效果；通过综合评价盘髁距离、关节盘长度和髁突高度，可以评估
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112998688 A
(43)申请公布日 2021.06.22
(21)申请号 202110191770.9
(22)申请日 2021.02.20
(71)申请人 上海交通大学医学院附属第九人民
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