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本发明提供检测装置,即使在无法通过红外线照相机从晶片的背面检测形成于正面的分割预定线的情况下,也能够从晶片的背面检测形成于正面的分割预定线。对被加工物的内部进行检测的检测机构包含:波长区分延迟单元,其使从激光振荡器射出的每一个脉冲的脉冲激光光线按照每个波长而具有时间差;以及环生成单元,其将按照每个波长而具有时间差的脉冲激光光线生成为环状,并且按照每个波长从小环形光分光为大环形光。当向被加工物照射按照每个波长而具有时间差的环状的脉冲激光光线时,在被加工物内部产生超声波的干涉波,在超声波所会聚的位置
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112975112 A
(43)申请公布日 2021.06.18
(21)申请号 202011425695.X B23K 26/08 (2014.01)
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