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2023-06-12 发布于四川
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一种应用于集成电路的芯片测试设备及测试方法.pdf

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本发明属于集成芯片的测试技术领域，具体的说是一种应用于集成电路的芯片测试设备，包括固定板，固定板远离配电柜的一侧一边固定连接有中控机构，固定板靠近中控机构的一侧中部固定连接有芯片模拟驱动机构，芯片模拟驱动机构的一端通过传输数据线电性连接有运行装置，移动定位机构的移动端固定连接有移动引脚卡板；使测试芯片可以进行不同的温度下工作测试芯片性能，使测试设备在进行测试不同大小型号的芯片时不需要将跟换设备的型号；一种应用于集成电路的芯片测试方法，通过温度调节装置分别调节到零度进，到20‑35度，到35‑50

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113009322 A (43)申请公布日 2021.06.22 (21)申请号 202110314128.5 (22)申请日 2021.03.24 (71)申请人深圳群芯微电子有限责任公司

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