1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

一种芯片测试方法及装置.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约1.61万字
  • 约 15页
  • 2023-06-12 发布于四川
  • 举报

一种芯片测试方法及装置.pdf

    本申请提供了一种芯片测试方法及装置，应用于测试服务器中，该测试服务器外接网络设备，该网络设备包括NP芯片。该方法为：获取配置文件；根据配置文件对NP芯片进行初始化；待初始化完成后向NP芯片加载固件；待固件加载完成后，建立与PCIE服务器之间的通信连接；从PCIE服务器获取测试例套件，并在NP芯片上加载获取到的测试例套件，该测试例套件包括多个测试例；向网络测试仪发送报文注入指令，以使网络测试仪将测试报文发送至NP芯片，由NP芯片基于测试例套件对测试报文进行相应处理；对NP芯片进行监测处理，若监测到

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113032196 A (43)申请公布日 2021.06.25 (21)申请号 202110334568.7 (22)申请日 2021.03.29 (71)申请人 新华三半导体技术有限公司

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >