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- 2023-06-12 发布于四川
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本发明公开了一种显微表面测量装置,包括投影屏、基座、显微物镜、成像透镜及CCD探测器,以所述投影屏、显微物镜、成像透镜和CCD探测器构建离轴光学系统,所述基座用于放置所述测试元件,其中,所述处理器连接所述投影屏和所述CCD探测器,所述处理器根据预存设置使所述投影屏产生一正弦条纹光信号,该正弦条纹光信号以一特定角度投射至测试元件上,经过所述测试元件的表面反射至所述显微物镜形成一汇聚光束,该汇聚光束经过所述成像透镜,在所述CCD探测器中呈现一变形条纹光信号,所述处理器对所述变形条纹光信号进行分析,获
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113029033 A
(43)申请公布日 2021.06.25
(21)申请号 202110335304.3
(22)申请日 2021.03.29
(71)申请人 中国计量大学
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