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本发明公开了应用于芯片的N电极及制备方法和VCSEL芯片,N电极包括:Pd层,Pd层设置在芯片的GaAs衬底上;Ge层,Ge层设置在Pd层的远离GaAs衬底的表面上;金属黏附层,金属黏附层设置在Ge层的远离Pd层的表面上;金属阻挡层,金属阻挡层设置在金属黏附层的远离Ge层的表面上;金属打线层,金属打线层设置在金属阻挡层的远离金属黏附层的表面上。本发明的Pd层和Ge层通过较低的退火温度就能实现与GaAs衬底具有较低的接触电阻,从而进一步提高了器件的可靠性。同时,Pd层和Ge层可分别蒸镀形成,在蒸镀
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115693391 A
(43)申请公布日 2023.02.03
(21)申请号 202211702659.2
(22)申请日 2022.12.29
(71)申请人 华芯半导体研究院(北京)有限公司
地
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