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本发明提供一种基于X射线的电子系统辐射敏感位置快速甄别方法及系统，解决电子系统级总剂量效应试验过程中辐射敏感位置难以快速、准确定位的问题。该方法和系统在试验过程中采用局部屏蔽技术和逐个器件扫描辐照方式，可快速、准确获得电子系统的辐射敏感位置，不需要改变系统设计，并回避了长线加偏置、离线测试等问题，实现方法简单易行，实验周期短、成本低且操作方法简单。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113064196 A
(43)申请公布日 2021.07.02
(21)申请号 202110292224.4
(22)申请日 2021.03.18
(71)申请人 西北核技术研究所
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