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- 2023-06-15 发布于四川
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一种芯片测试载具及芯片测试设备,芯片测试设备包括:芯片测试载具、测试机台、多组测试探头以及移动平台,芯片测试载具包括:可相互重叠卡装并可相互分离的专用托盘和核心托盘;转运托盘包括:托板和设于托板正面的多排平行分布的用以盛放芯片的盛放单元,每个盛放单元的中心具有呈十字交叉状的通孔和用以容纳芯片的容纳腔,核心托盘包括:基板和设于基板正面的多排平行分布的用以卡紧芯片的卡紧单元,每个卡紧单元具有卡紧芯片的卡腔,卡腔尺寸小于容纳腔尺寸。该芯片测试载具能实现芯片测试过程中的批量上料、批量撤料以及测试过程中的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 107229014 A
(43)申请公布日
2017.10.03
(21)申请号 20171
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