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提供一种检测二次电池的劣化的半导体装置。该半导体装置包括容量计及异常电流检测电路及控制电路。容量计包括分流电路及积分电路。异常电流检测电路包括第一存储器、第二存储器及第一比较器。积分电路具有通过对分流电路所检测的检测电流进行积分来将该检测电流转换成检测电压的功能。异常电流检测电路被供应检测电压、在第一时刻被供应的第一信号以及在第二时刻被供应的第二信号。第一信号可以将第一时刻的检测电压储存在第一存储器中,第二信号可以将第二时刻的检测电压储存在第二存储器中。第一比较器将第一时刻的检测电压及第二时刻的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113196546 A
(43)申请公布日 2021.07.30
(21)申请号 201980083725.2 松嵜隆德
(22)申请日 2019.12.13
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