一种基于可变磁场的薄膜光学性能测量系统.pdfVIP

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2023-06-15 发布于四川
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一种基于可变磁场的薄膜光学性能测量系统.pdf

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本发明公开一种基于可变磁场的薄膜光学性能测量系统，其包括磁体变位器、薄膜定位装置，所述磁体变位器、薄膜定位装置采用无磁性的PLA塑料作为系统主体，使磁体对测试系统的影响在扫描基线时将以扣除，保证多次取出、置入样品均能使样品在换样测试过程中每一次放置的位置保持不变，以排除入射光入射区域差异引起的测量误差，弥补了现有光谱测量系统无法将磁场、光场一体化的空白。另一方面，磁体变位自由度高，可提供大小、角度、方向连续可调的磁场，可支持实验研究自变量的均匀变化。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113176219 A (43)申请公布日 2021.07.27 (21)申请号 202110481735.0 (22)申请日 2021.04.30 (71)申请人福建师范大学地址