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磁导率测试结构和测试方法.pdfVIP

磁导率测试结构和测试方法.pdf

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    本发明公开了一种磁导率测试结构，包括：标准磁芯，其两极面位于同一平面，其两极面能同时与待测磁芯的某一个面形成面接触，其能与待测磁芯形成闭合磁路；电磁转换件，其套装在标准磁芯上；测量件，其连接电磁转换件，其用于量测电感。本发明利用待测磁芯和标准磁芯组成闭合磁路，使待测磁芯磁导率的变化更加能以较大电感量变化的方式反应到外特性上的原理，能实现快速准确测试磁芯磁导率是否满足设计要求，本发明结构简单便于使用且生产成本较低，便于生产使用。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113219385 A (43)申请公布日 2021.08.06 (21)申请号 202110466242.X (22)申请日 2021.04.28 (71)申请人 纵目科技(上海)股份有限公司

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