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大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法.pdfVIP

大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法.pdf

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    一种大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法，属于光学元件损伤检测领域。本发明针对现有光学元件的在线损伤图像与离线损伤图像之间通过损伤点匹配确定伪损伤点，匹配难度大并且效率低的问题。它采用近邻损伤多点主动定位方法找到损伤的位置，相对于传统的三角形匹配方法，不需要将损伤两两之间的距离、角度信息提前计算存储，极大地减少了计算量，加快了匹配速度；同时，利用待匹配损伤近邻已匹配损伤的相对位置关系，更加精准的找到待匹配损伤的位置，减少远距离损伤匹配带来的误差，提高匹配精度。本发明在强干扰损伤的情况下

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113237888 B (45)授权公告日 2022.06.14 (21)申请号 202110559458.0 G06T 7/33 (2017.01)

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