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2023-06-16 发布于四川
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针对电容式传感器进行检测的电路结构.pdf

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本发明涉及一种针对电容式传感器进行检测的电路结构，其中，该电路结构包括：线性稳压器(LDO)，与外部的电源电压(VABT)以及地相连接，用于提供稳定的电压源；微控制单元(MCU)，与所述的线性稳压器(LDO)相连接，用于为所述的电路结构进行电路信号的处理；以及第一电极处理单元和第二电极处理单元，与所述的微控制单元(MCU)相连接，用于控制所述的电路结构的电极的电容值的变化。采用了本发明的该电路结构，能够完美的替代测试电容检测传感器组件功能时的天线式电极方案，具有稳定性好，参数易于调整等优点。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113218424 A (43)申请公布日 2021.08.06 (21)申请号 202110568931.1 (22)申请日 2021.05.25 (71)申请人东风电子科技股份有限公司

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