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用于光谱仪系统的线性温度校准补偿.pdfVIP

用于光谱仪系统的线性温度校准补偿.pdf

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    在示例方法中，向样本区域发射光，并且在干涉仪处接收样本光。样本光的子集从干涉仪被透射到检测器。透射样本光的子集包括确定参考温度和与样本光的子集的波长范围对应的参考电压。透射样本光的子集还包括确定环境温度，确定与参考温度和环境温度之间的差对应的偏置电压，以及向干涉仪施加与参考电压和偏置电压之和对应的输入电压。由检测器测量样本光的子集，并且基于测量结果确定光的光谱分布。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113227730 A (43)申请公布日 2021.08.06 (21)申请号 201980085288.8 (74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所

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