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本申请涉及芯片测试技术领域，具体公开一种集成测试板卡、系统及测试方法。装置包括中断产生模块、主控模块及功能测试模块：中断产生模块用于在接收到测试终端发出的测试指令时，产生第一中断触发信号；主控模块响应于第一中断触发信号，获取与测试指令对应的测试参数信息，并根据测试参数信息配置功能测试模块，以使功能测试模块对待测芯片进行测试；主控模块还用于在功能测试模块测试完毕后产生应答指令，并发送应答指令至中断产生模块；中断产生模块还用于在接收到应答指令时，产生第二中断触发信号，并发送第二中断触发信号至测试终端
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113219319 A
(43)申请公布日 2021.08.06
(21)申请号 202110372517.3
(22)申请日 2021.04.07
(71)申请人 苏州华兴源创科技股份有限公司
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