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一种基于结构化高光谱系统的水果缺陷检测方法.pdfVIP

一种基于结构化高光谱系统的水果缺陷检测方法.pdf

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    本发明提供一种基于结构化高光谱系统的水果缺陷检测方法，它检测准确率高，尤其适合于对早期肉眼不可见的淤伤水果的检测。所述结构化高光谱系统包括高光谱相机、光源、光纤导管、投影仪、计算机，计算机与高光谱相机、投影仪电连接，光源通过光纤导管与投影仪相连，高光谱相机、投影仪、水果放置在密闭黑箱中；通过计算机编程产生正弦条纹，将正弦条纹通过投影仪投影至水果，利用高光谱相机拍摄不同相位图片，再将相位图片解模为完整图片，并获取结构化光谱，对水果缺陷进行识别。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113256575 A (43)申请公布日 2021.08.13 (21)申请号 202110523323.9 (22)申请日 2021.05.13 (71)申请人 南京农业大学 地址

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