循环期间的编程电压调制.pdfVIP

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2023-06-17 发布于四川
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循环期间的编程电压调制.pdf

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本发明描述了系统和方法，该系统和方法通过随着编程/擦除循环数增加而随时间推移调制施加到非易失性存储器单元的编程电压来增加循环耐久性并且使非易失性存储器单元的过编程最小化。基于两个阈值电压区域内的位计数w的位计数比可用于确定在后续编程操作期间施加的编程电压中的电压减小量。例如，如果位计数比介于0.02和0.05之间，则编程电压的减小可为100mV；如果位计数比介于0.05和0.10之间，则编程电压的减小可为200mV。可根据用于存储器块的编程/擦除循环总数和/或位计数比，以变化的循环间隔来执行编程

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113284539 A (43)申请公布日 2021.08.20 (21)申请号 202010552111.9 (22)申请日 2020.06.17 (30)优先权数据 16/796,89