原创力文档- 0
- 0
- 约1.38万字
- 约 11页
- 2023-06-17 发布于四川
- 举报
本发明公开了一种表面轮廓成像装置及方法，涉及光学干涉检测技术，低相干光源发出的光束进入耦合器再进入扫描模块，经过扫描模块后的光束进入3D成像模块；3D成像模块中的分光棱镜将光束分成样品光和参考光，参考光进入参考光模块；由样品和参考光模块反射的光束经原路返回至耦合器，返回至耦合器的光束从耦合器的另一端进入光谱仪形成干涉光谱；由计算机处理形成样品表面的3D轮廓分布；2D成像模块采集样品表面2D图像并将信号传至计算机。本发明使用相对较窄的低相干光源，实现大测量范围高分辨率测量及成像，且成本低；2D成像
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113267142 B
(45)授权公告日 2022.08.19
(21)申请号 202110536383.4 CN 101214145 A,2008.07.09
(22)
文档评论（0）