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一种电子元件性能测试装置及测试方法.pdfVIP

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  • 2023-06-19 发布于四川
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一种电子元件性能测试装置及测试方法.pdf

    本发明公开了一种电子元件性能测试装置及测试方法，属于电子元件测试技术领域，包括设有引线套的测试底座，所述测试底座顶部两侧均通过可调节的夹持机构限位有若干连接机构，且连接机构内腔通过散热机构泵出的散热水液进行热量循环，且散热机构固设于测试底座一侧，所述测试底座后侧固定连接有可调节的承载机构，所述连接机构包括接线座。本发明中，通过设计的夹持机构，实现对边侧电路板的限位以及贴合散热，提高多个电路板插置连接的稳固性和同步散热效果；通过设计的散热机构，实现对多个接线座以及底部冷液水腔的水液循环调控，满足分

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113281592 A (43)申请公布日 2021.08.20 (21)申请号 202110516018.7 (22)申请日 2021.05.12 (71)申请人 深圳市英达维诺电路科技有限公司

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