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基于互补金属氧化物的半导体检测模块结构.pdfVIP

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  • 2023-06-19 发布于四川
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基于互补金属氧化物的半导体检测模块结构.pdf

    本发明提供基于互补金属氧化物的半导体检测模块结构，涉及半导体检测技术领域，以解决在进行半导体检测过程中，由于半导体易被光线影响和过热影响，导致半导体在检测过程中会误差，而单一半导体的检测在检测时可能会出现误测的问题，此外，半导体在取放的过程中可能会发生磨损的问题，包括检测筒；所述检测筒为圆筒状结构；所述检测筒的上端封盖有圆盘状的顶升密封板；所述检测筒的筒壁上环形间隔均匀垂直固定安装有四个调整架，调整架的内端置于检测筒内腔中。本发明中本发明中调整架根据承载托盘的上下位置进行内外调整，避免调整架和其

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113281801 A (43)申请公布日 2021.08.20 (21)申请号 202110567162.3 (22)申请日 2021.05.24 (71)申请人 陈海彬 地址 362

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