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- 2023-06-19 发布于四川
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本发明公开了一种芯片测试设备，在FT测试模式下，如果芯片标识读取模块在开短路测试模块对放置于测试槽的待检芯片完成FT测试的开短路测试时读取的该待检芯片的FT标志寄存器中的标识为测试通过识别码，其控制器输出叠料或卡料现象发生信息；当对放置于测试槽的待检芯片的FT测试的全部测试项完成时，如果该待检芯片的FT测试的各测试项均通过，其控制器控制标识写入模块向该芯片的FT标志寄存器写入测试通过识别码，如果该待检芯片的FT测试存在失败测试项，其控制器输出测试未通过信息。本发明还公开了该芯片测试设备的芯片测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113281634 A
(43)申请公布日 2021.08.20
(21)申请号 202110578262.6
(22)申请日 2021.05.26
(71)申请人 普冉半导体（上海）股份有限公司
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