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- 2023-06-19 发布于四川
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本发明公开了一种磁纳米温度测量方法及系统,属于磁光测试技术领域,包括:S1、测量磁纳米涂层的磁光克尔角;其中,磁纳米涂层置于待测区域上;磁纳米涂层的居里温度大于待测区域的温度;S2、基于磁纳米涂层的磁光克尔角与磁化强度的线性关系,得到磁纳米涂层的磁化强度;S3、基于居里外斯定律,根据磁纳米涂层的磁化强度,计算得到磁纳米涂层的温度,即待测区域的温度。本发明为非接触式、非侵入式测量,且其中测量磁纳米涂层的磁光克尔角所用的光不限于红外光,也可以是可见光,可以根据不同的测量场景进行选取,能够在不同特殊环
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113280940 A
(43)申请公布日 2021.08.20
(21)申请号 202110575560.X
(22)申请日 2021.05.26
(71)申请人 华中科技大学
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