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公开了用于检测增材制造材料中杂质的方法和系统。用于检测增材制造材料中的杂质的示例方法包括：通过光源用光照射增材制造材料的样品；在用光照射增材制造材料的样品的同时，使相机获取样品的图像数据；以及处理该图像数据以确定增材制造材料的样品中的杂质的量。用于检测增材制造材料中的杂质的示例系统包括：光源，用于用光照射增材制造材料的样品；相机，用于在用光照射增材制造材料的样品的同时获取样品的图像数据；具有一个或多个处理器的计算设备，该一个或多个处理器被配置为执行存储在存储器中的指令，以处理图像数据，从而确定增
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113324992 A
(43)申请公布日 2021.08.31
(21)申请号 202110211600.2 (51)Int.Cl.
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