用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径.pdfVIP

用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径.pdf

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本申请案涉及用于存储器子系统控制器的专用可测试性设计路径。接收命令执行数据。所述命令执行数据包括对应于功能组件的块地址、对应于所述功能组件的可测试性设计DFT寄存器的寄存器识别符,和命令数据。将所述命令执行数据转换为串行命令。将所述串行命令提交到所述功能组件的所述DFT寄存器。接收对所述串行命令的响应。所述响应是由所述功能组件基于所述串行命令产生。将所述响应转换为命令响应数据,且提供到测试子系统。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113326216 B (45)授权公告日 2022.06.07 (21)申请号 202110219279.2 G06F 13/42 (2006.01)

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