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2023-06-20 发布于四川
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本公开提出一种辐射成像系统和方法，涉及辐射探测技术领域。本公开的一种辐射成像系统包括：光电二极管探测器，被配置为接收来自射线源的射线，并生成第一探测信号；第一成像设备，与光电二极管探测器连接，被配置为根据第一探测信号生成第一成像数据；计数探测器，位于光电二极管探测器的远离射线接收面的一侧，被配置为接收穿过光电二极管探测器的射线，生成第二探测信号；计数成像设备，与计数探测器连接，被配置为根据第二探测信号生成计数成像数据；和图像融合装置，被配置为根据第一成像数据和计数成像数据，获取第一融合图像，提高

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113281357 A (43)申请公布日 2021.08.20 (21)申请号 202110781545.0 (22)申请日 2021.07.12 (71)申请人同方威视技术股份有限公司

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