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提供能够对细孔性络合物晶体供给试样并使其可靠地吸藏的单晶X射线构造解析试样的吸藏装置以及吸藏方法。吸藏装置(300)使试样吸藏，具备：将所述试样供给到被插入保持细孔性络合物晶体的试样固定器(310)的涂敷器(311)的内部的供给部；控制所述涂敷器(311)的温度的温度调整部(320)；从被插入所述试样固定器(310)的所述涂敷器(311)的内部将所述试样运出的排出部；和控制所述供给部、所述温度调整部(320)和所述排出部的控制部(340)。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113302482 A
(43)申请公布日 2021.08.24
(21)申请号 201980088982.5 (74)专利代理机构 中科专利商标代理有限责任
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