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本发明提供一种太赫兹开关阵列成像装置及成像方法,装置包括:太赫兹开关阵列(00),太赫兹开关阵列(00)由集成在同一CMOS硅片上的至少两个太赫兹开关(0)构成;其中,太赫兹开关(0)包括:依次叠加的半导体衬底(3),氧化物隔离层(4)和多晶硅栅极(5);其中,多晶硅栅极(5)的电位大于电位阈值,在半导体衬底(3)中产生反型层(10),反型层(10)用于阻断太赫兹波光信号在太赫兹开关(0)中的传播;多晶硅栅极(5)的电位可调,用于在至少两个太赫兹开关(0)中形成不同强度的太赫兹波光信号来成像。本
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113359206 A
(43)申请公布日 2021.09.07
(21)申请号 202110611222.7
(22)申请日 2021.06.01
(71)申请人 中国科学院半导体研究所
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