一种芯片烧录测试设备.pdfVIP

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  • 2023-06-21 发布于四川
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本发明涉及一种芯片烧录测试设备,所述设备用以烧录或测试多个芯片,多个芯片被各自放置于托盘中的多个凹槽内;且芯片具有多个接脚,所述芯片烧录测试设备包括:座体;设置在所述座体上的轨道机构,包括两根平行轨道,用于将所述托盘卡接至所述平行轨道之间;托盘中的凹槽的底部具有多个通孔;探针板,与托盘紧贴设置,探针板包括多个探针;探针板上的探针与托盘中的凹槽底部的通孔一一对应;且所述探针板的上探针穿过托盘中的凹槽底部的通孔,并在所述托盘的凹槽底部透出,并与托盘凹槽底部的芯片上的接脚接触;设置在所述座体上的主机装

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113376512 A (43)申请公布日 2021.09.10 (21)申请号 202110706280.8 (22)申请日 2021.06.24 (71)申请人 深圳市海创嘉科技有限公司

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