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2023-06-21 发布于四川
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一种双工位IC测试分选机.pdf

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本发明提供的双工位IC测试分选机，在对IC芯片进行分选时，先通过引脚位置检测装置判断分度装置上夹取的两个IC芯片是否的引脚位置情况，当引脚位置检测装置判断两个IC芯片均引脚位置错位时，则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动两个转动台转动预设的角度，即转动台旋转180度令IC芯片旋转180度；当引脚位置检测装置判断其中一个IC芯片引脚位置错位时，则通过转向电机驱动转向传动组件同时驱动对应的转动台转动预设的角度，即转动台旋转180度令IC芯片旋转180度；至此，仅需要投入并控制一个转向

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113333310 B (45)授权公告日 2022.02.18 (21)申请号 202110619989.4 审查员张珅 (22)申请日 2021.06.03

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