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本申请涉及卷积神经网络(CNN)算法支持的晶片的最小监督自动检查(AI)。计算装置包括存储器和处理器。存储器被配置为保存电子电路的一个或更多个参考图像。处理器被配置成(a)通过在参考图像中嵌入缺陷的视觉伪像来根据参考图像生成一组训练图像，(b)使用该一组训练图像来训练神经网络(NN)模型，以及(c)使用经训练的NN模型来识别在电子电路的复制品的经扫描的图像中的缺陷。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113409234 A
(43)申请公布日
2021.09.17
(21)申请号 20201
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