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2023-06-22 发布于四川
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内存条老化测试设备.pdf

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本发明公开了一种内存条老化测试设备，包括储存机构、飞梭机构、上下料夹爪机构、上下料机构、中转机构、测试机构；所述飞梭机构的一进出料端设置于储存机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于上下料机构处；所述上下料夹爪机构设置于储存机构的上方位置；所述上下料机构的上方位置设置有上下料机械手；所述中转机构的一进出料端设置于上下料机构处，中转机构的另一进出料端设置于所述测试机构处。本发明通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组内存条同时上料、下料、测试的优点，结构简单、合理

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113415626 A (43)申请公布日 2021.09.21 (21)申请号 202110872754.6 (22)申请日 2021.07.30 (71)申请人苏州

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