一种发光器件激子特性参数反演方法及装置.pdfVIP

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2023-06-23 发布于四川
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一种发光器件激子特性参数反演方法及装置.pdf

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本发明提供了一种发光器件激子特性参数反演方法及装置，属于发光器件领域，方法包括：构建基于发光器件TM/TE偏振态远场视角光谱、激子特性参数以及ETL膜层厚度的正向模型；调整正向模型中ETL膜层厚度，筛选出对激子分布函数敏感的第一ETL膜层厚度集；基于实际测量的TE偏振态远场视角光谱与基于最终ETL膜层厚度获取的理论TE偏振态远场视角光谱，结合线性拟合方法与非线性拟合方法，获取发光器件最终的激子分布函数；基于最终的激子分布函数和实际测量的TE偏振态远场视角光谱，采用最小二乘法反演得到激子取向参数。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113465887 B (45)授权公告日 2022.05.20 (21)申请号 202110705702.X G06F 30/20 (2020.01) (22)申请日 2021.06