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本申请实施例公开了一种对单板进行测试的测试设备和方法，属于测试技术领域。该测试设备包括处理器、功能测试部件和硬件测试部件，其中：功能测试部件测试待测单板的功能测试项，并将功能测试项的测试结果发送给处理器；硬件测试部件测试待测单板的测试点处的电压，并将测试点处的电压发送给处理器；处理器根据功能测试项的测试结果和预先存储的功能测试项与电路区域的对应关系确定故障电路区域；根据测试点处的电压和预先存储的测试点与标准电压的对应关系，确定故障测试点；根据预先储存的测试点与器件位置号的对应关系，确定故障测试点
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113466655 B
(45)授权公告日 2023.04.07
(21)申请号 202010241838.5 审查员 陈维维
(22)申请日 2020.03.31
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