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一种微环谐振器的插入损耗测试方法.pdfVIP

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  • 2023-06-23 发布于四川
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一种微环谐振器的插入损耗测试方法.pdf

    本发明涉及光器件技术领域，公开了一种微环谐振器的插入损耗测试方法，包括以下步骤：搭建测试系统；通过测试系统测试待测微环谐振器的传输谱线；根据微环谐振器的传输谱线，获得微环谐振器的和3dB带宽，根据微环谐振器的和3dB带宽，获得微环谐振器的精细因子；由于微环谐振器的插入损耗和精细因子是一一对应的关系，根据微环谐振器的精细因子判定微环谐振器的插入损耗大小，测试准确、误差小，测试系统简单、操作便捷、测试快速。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113483997 B (45)授权公告日 2021.12.07 (21)申请号 202111046814.5 G06F 17/16 (2006.01)

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