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内置自测试电路和相关方法.pdf

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    公开了内置自测试(BIST)电路和相关方法。示例BIST电路(302)包括状态机(340)，当使能信号(362)为有效时，该状态机(340)生成控制信号(366)以将与晶体管相关联的栅极电压(316)从第一电压降低到第二电压，晶体管(304)在第一电压和第二电压下被启用，并且当栅极电压(316)降低到第二电压时，当与晶体管(304)相关联的栅极到源极电压(328)满足阈值时，该状态机(340)使警报信号(364)为有效。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113454472 A (43)申请公布日 2021.09.28 (21)申请号 202080015334.X (74)专利代理机构 北京纪凯知识产权代理有限

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