一种间接检测MLCC介质陶瓷晶格缺陷的方法.pdfVIP

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2023-06-23 发布于四川
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一种间接检测MLCC介质陶瓷晶格缺陷的方法.pdf

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本申请涉及陶瓷元件介质陶瓷晶格缺陷检测领域，公开了一种间接检测MLCC介质陶瓷晶格缺陷的方法。该方法包括如下步骤：准备材料：根据需求准备测试夹具、高温老化箱、安培表、万用表、绝缘测定机；安装待测品：将待测品串联安装在测试夹具上；确认状态：确认待测品安装状态良好；调节测试条件：将待测品放入高温老化箱并预设测试温度与测试电压；设定取值时间：设定电流采集取值时间间隔；开启测试：开启高温老化箱，待温度达到预设值后使老化箱处于保温状态进行测试；定时取值：根据预定时间间隔对待测品的电流取值；计算各时刻的绝缘

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113552419 B (45)授权公告日 2022.06.14 (21)申请号 202111104267.1 G01N 27/04 (2006.01) (22)申请日 2021.09