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本发明涉及光器件测试技术领域，应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，包括以下步骤：步骤S1:搭建光器件测试系统，步骤S2:预热光器件测试系统T时间，进行光器件预热参数测试，输出预热参数，步骤S3:当预热参数不满足设定值时，执行步骤S2，当测试结果满足设定值时，执行步骤S4；步骤S4:校准光器件测试系统，根据校准结果设置测试参数配置文件；步骤S5:根据测试参数配置文件进行待测光器件的性能测试，输出测试结果。考虑预热时间对光器件性能的影响，实现了RX端、TX端的精确校准，减少测试误。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113595625 B
(45)授权公告日 2023.04.07
(21)申请号 202110770201.X (56)对比文件
(22)申请日 2021.07.06
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