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一种芯片缺陷检测的触发装置及系统.pdfVIP

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  • 2023-06-26 发布于四川
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一种芯片缺陷检测的触发装置及系统.pdf

    本实用新型公开了一种芯片缺陷检测的触发装置及系统，包括相机、点光源、镜头、用于移动芯片检测框架的顶针以及用于检测所述顶针的光电触发开关；所述顶针与芯片检测框架连接，所述芯片放置在芯片检测框架上，所述镜头配套安装在所述相机前端，所述点光源安装在所述镜头上，所述镜头正对所述芯片；所述光电触发开关与所述相机连接。通过光电触发开关返回的信号对相机完成触发拍照，避免了相机连续采集所带来的内存空间损耗，也不会采集到大量的无效的图像，降低检测算法的处理难度，保证缺陷检测的精度。同时，顶针每次移动固定距离检测的

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219245374 U (45)授权公告日 2023.06.23 (21)申请号 202223185270.3 (22)申请日 2022.11.29 (73)专利权人 成都宋元光电科技有限公司 地址

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