测试只读存储器程序的方法、待测设计、测试设备和介质.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.69万字
  • 约 15页
  • 2023-06-26 发布于四川
  • 举报

测试只读存储器程序的方法、待测设计、测试设备和介质.pdf

本发明涉及程序测试技术领域,公开了测试只读存储器程序的方法、待测设计、测试设备和介质。测试只读存储器的程序的方法包括如下步骤:控制至少一个写端口为不可用状态,驱动待测设计运行目标测试程序;通过至少一个读端口读取目标测试程序并进行运行,获取运行结果,根据运行结果判断测试程序是否存在错误;若根据运行结果判定测试程序存在错误,则根据错误生成更新测试程序,控制至少一个写端口为可用状态,通过至少一个写端口将更新测试程序写入测试存取器中,将更新测试程序作为新的目标测试程序,执行控制至少一个写端口为不可用状态

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116312714 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202310369063.3 (22)申请日 2023.03.31 (71)申请人 深圳鲲云信息科技有限公司 地址

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档