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半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法.pdfVIP

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  • 2023-06-28 发布于四川
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半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法.pdf

    本发明提供一种使用可有效率地削减消耗电流的新的方式的周期检测电路的半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法。所述半导体装置包括：边缘检测部(12)，检测经由电波接收的数据信号(Data)的上升及下降的任一者的边缘；计数部(14)，计算邻接的边缘的区间中的对应于数据信号(Data)而将事先决定频率的参考时钟信号的频率变成1/N(N为2以上的整数)的N分频时钟信号(Div2_Clock)的个数；分数计数部(18、20、22、24、30)，计算对应于边缘与N分频时钟信号(Div2_Clock)的相位差

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 108694435 A (43)申请公布日 2018.10.23 (21)申请号 20181

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