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本发明提供一种半导体制造装置用部件,能够抑制在晶片与导电性基材之间发生放电。半导体制造装置用部件(10)具备:陶瓷板(20);金属接合层(40)及冷却板(30)(导电性基材),它们设置于陶瓷板(20)的下表面;第一孔(24),其沿着上下方向贯穿陶瓷板(20);以及贯通孔(42)及气体孔(34)(第二孔),它们沿着上下方向贯穿导电性部件,且与第一孔(24)连通。多孔质插塞(50)的上表面在第一孔(24)的上部开口露出,下表面位于导电性基材的上表面以下。绝缘管(60)的上表面位于比晶片载放面(21)
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116344428 A
(43)申请公布日 2023.06.27
(21)申请号 202211023886.2
(22)申请日 2022.08.24
(30)优先权数据
2021-208054 202
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