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本发明涉及对测试细胞底物进行谱表征的方法。该表征包括分类学归类和确定测试细胞底物的所关注的属性。该表征优选基于质谱测量数据。所关注的属性优选是对生长影响因素的抵抗力或敏感性。在将测试细胞底物的第一谱测量数据与所提供的参考库进行比较后，创建子库，其包括来自参考库的被归类为允许对测试细胞底物进行分类学分类的那些参考数据集。在用于确定测试细胞底物的关注属性的条件下对测试细胞底物进行第二制备之后的第二谱测量数据与子库进行比较，并允许对关注属性进行可靠的确定。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116343926 A
(43)申请公布日 2023.06.27
(21)申请号 202211457794.5
(22)申请日 2022.11.21
(30)优先权数据
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