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本发明公开了一种基于图像识别技术的电子元器件检测方法及系统，方法包括S1，获取电子元器件的外观图像；S2，对外观图像进行预处理；S3，获取第一前景图像；S4，获取获得扩充图像；S5，对扩充图像进行分区处理；S6，分别获取需要和不需要再次进行图像分割处理的图像块的集合ntigcol和agtcol；S7，分别计算ntigcol中每个图像块的差别系数；S8，基于差别系数分别对ntigcol中的每个图像块进行二次分割，获得所有前景像素点的集合alfrpicol；S9，基于alfrpicol中的像素点和a
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115239692 A
(43)申请公布日 2022.10.25
(21)申请号 202210969998.0
(22)申请日 2022.08.12
(71)申请人 广东科学技术职业学
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