基于深度学习的集成电路测试异常分析系统及其方法.pdfVIP

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2023-06-29 发布于四川
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本发明提供一种基于深度学习的集成电路测试异常分析系统及其方法，经过对测试过程中累积的历史测试数据进行深度学习反复训练，可根据学习与训练情况自动优化参数设置，并通过实时的测试数据时进行测试异常预警预判及早干预，避免测试异常发生，对发生的异常自动识别测试异常解决方法予以提示，减少不同技术员处理测试异常的时间，提高整体机台有效利用率，降低测试成本。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113687209 A (43)申请公布日 2021.11.23 (21)申请号 202110801261.3 G06N 3/08 (2006.01) (22)申请日 20